SWIR 短波红外

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SWIR 短波红外助力半导体材料分选与检测

2025年5月31日

SWIR 短波红外助力半导体材料分选与检测

某封测厂用 SWIR 成像看穿硅——抓住可见光检测看不见的晶圆内部裂纹与键合缺陷，并按『里面真实的样子』分选再生晶圆。

案例研究SWIR 短波红外半导体

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