31 mai 2025
Tri et inspection de matériaux semi-conducteurs en SWIR
Comment une usine de packaging semi-conducteur utilise l'imagerie SWIR pour voir à travers le silicium — détectant fissures internes de wafers et défauts de collage que l'inspection visible ne voit pas, et triant les wafers reconditionnés selon ce qu'ils contiennent réellement.
étude de casSWIR infrarouge courtsemi-conducteur
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